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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：磊晶片測(cè)量

  • 產(chǎn)品型號(hào)：Talysurf
  • 產(chǎn)品廠商：英國(guó)TAYLOR HOBSON
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
對(duì)于客戶和供應(yīng)商而言，表面紋理是確定外延半導(dǎo)體質(zhì)量的極其重要的參數(shù)
詳情介紹：

磊晶片測(cè)量

由于光電組件在電訊和顯示技術(shù)領(lǐng)域的的用途不斷擴(kuò)展，外延技術(shù)成為組件生產(chǎn)的關(guān)鍵技術(shù)。外延是指在單晶基片表面上沉積非常薄的半導(dǎo)體物質(zhì)層的過程。每個(gè)晶體層稱為外延層。

計(jì)量

表面粗糙度
對(duì)于客戶和供應(yīng)商而言，表面紋理是確定外延半導(dǎo)體質(zhì)量的極其重要的參數(shù)。對(duì)于目前的驅(qū)動(dòng)器而言，因?yàn)橐诠杵嫌∷⒌碾娐吩絹碓叫?，所以粗糙度容差范圍變得更窄。磊晶片的表面粗糙度?guī)定為納米級(jí)，所以這需要使用噪音非常低且分辨率高的系統(tǒng)來測(cè)量磊晶片。

 

 

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